稀土粒徑分析儀

簡要描述：

稀土粒徑分析儀器：粒徑范圍0.02μm -3600μm，無需更換透鏡，不依賴標(biāo)樣校準(zhǔn)

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詳細(xì)介紹

稀土材料的物理性能對其應(yīng)用性能有著重要的影響，而顆粒的尺寸大小和分布參數(shù)與顆粒的特性密切相關(guān)，因此稀土粉體顆粒測試方法還有測試技術(shù)是顆粒研究的一個重要方面。也是稀土產(chǎn)品物性指標(biāo)控制中的一個關(guān)鍵的技術(shù)內(nèi)容。當(dāng)前，測定顆粒粒度的方法還有裝置很多，但是由于其對粒徑測定的原理各不相同，因此對于同一種物料用不同的方法測試，所得的結(jié)果可能也會有所不同。即使是對于同一種物料用同一種方法，但是由于操作者不同，也可能會得到一個相差較大的結(jié)果。稀土粒徑分析儀對顆粒粒度的分析具有快速、、便捷、工作狀態(tài)可靠、重復(fù)性好的特點(diǎn)，因而得以迅速推廣使用。同樣，雖然儀器本身對測定結(jié)果的影響很小，但樣品的分散條件、物料的性質(zhì)以及操作條件的選擇等，都對測定結(jié)果有很大的影響。

稀土粒徑分析儀技術(shù)指標(biāo)

項(xiàng)目	指標(biāo)
測量原理	激光衍射
光學(xué)模型	全量程米氏理論及夫朗霍夫理論可選
粒徑范圍	0.02μm -3600μm，無需更換透鏡，不依賴標(biāo)樣校準(zhǔn)
檢測系統(tǒng)	包含格柵式超大角度，非均勻交叉面積補(bǔ)償檢測器陣列，全測量角度范圍無盲區(qū)
光源	集成恒溫系統(tǒng)的638nm, 20mW固體激光器
空間濾波方式	偏振濾波技術(shù)
光學(xué)對中系統(tǒng)	智能全自動
測量時間	典型值小于10秒
測量速度	20000次/秒
度	Dv50優(yōu)于±0.6% （NIST可溯源乳膠標(biāo)樣）
重復(fù)性	Dv50優(yōu)于±0.5% （NIST可溯源乳膠標(biāo)樣）
激光安全	1類激光產(chǎn)品
計(jì)算機(jī)配置	In i5處理器，4GB內(nèi)存，250GB硬盤，鼠標(biāo)，鍵盤和寬屏顯示器
計(jì)算機(jī)接口	USB2.0
軟件運(yùn)行平臺	Windows 7版或以上版
操作環(huán)境溫度	5℃ - 40℃
操作環(huán)境濕度	10% - 85%相對濕度（無結(jié)凝）
電源要求	交流220V, 50Hz – 60Hz, 標(biāo)準(zhǔn)接地
光學(xué)系統(tǒng)重量	26kg
光學(xué)系統(tǒng)尺寸	636mm x275mm x320mm

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